eddy_em

Так как в прошлый раз использовались все данные, т.е. было очень много точек с явными выбросами, решено было хорошенько их проредить: теперь брались лишь те фитсы, которые были получены непосредственно после процедуры фокусировки. И опять получилось то же самое — две явные группы точек:


Аппроксимация прямой дала значение F = -0.15*T + 39.80 — практически то же самое, что и было раньше. Стандартное отклонение от прямой составляет 1.68 — в общем случае многовато, однако, похоже, что если сделать интерполяцию по группам, то получится лучше. Но уж очень смущает положительный наклон кривой в области отрицательных температур. Явно здесь что-то не так. Чтобы получить более точные значения надо вешать на стакан лазерный дальномер и снимать показания каждый день. Может быть, тогда будет хоть что-то понятно...

( немного кода )

P.S. В среду, выйдя после отпуска на работу, я обнаружил на столе посылочку с элементами (терморезисторы, макетка на STM32F4 с ethernet на борту, АЦП, набор всяких разных пустых макеток). Как только смогу, займусь. Для начала надо будет научиться работать по SPI с АЦП, напаять терморезисторов, подключить два термодатчика с I2C и оставить это все на долговременный мониторинг, тем временем пытаясь поднять стек TCP/IP на новой макетке с STM32.

Когда-то давно возился я с "микроскопом" из веб-камеры с дешевой пластмассовой оптикой, дабы определить наиболее простой способ автофокусировки, которая значительно упростила бы нашу работу с некоторыми приборами. Частично я это исследование провел, но, как обычно забросил в долгий ящик, перейдя к другим насущным проблемам.

Сегодня я наткнулся на этот проектик, а "микроскоп" до сих пор валяется у меня на столе. В общем, решил я наделать немного скриншотов и вкратце рассказать, как можно использовать вейвлет-преобразования для выявления качества фокусировки.

( Углубляемся )